Proceedings of the 2008 workshop on Radiation effects and fault tolerance in nanometer technologies

Podrobná bibliografie
Médium: Elektronický zdroj Kniha
Jazyk:English
Vydáno: Association for Computing Machinery (ACM), 5/5/08
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (ACM)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue