Skip to content
  • Ayesha Abed Library
  • שפה
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
מתקדם
  • Proceedings of the 2005 ACM SI...
  • יצירת מראה מקום
  • שלח את זה
  • הדפסה
  • יצוא רשומה
    • יצוא אל RefWorks
    • יצוא אל EndNoteWeb
    • יצוא אל EndNote
    • יצוא אל MARC
    • יצוא אל MARCXML
    • יצוא אל BibTeX
  • Permanent link
Proceedings of the 2005 ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

Proceedings of the 2005 ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

מידע ביבליוגרפי
פורמט: אלקטרוני ספר
שפה:English
יצא לאור: Association for Computing Machinery (ACM), 6/6/05
נושאים:
Conference papers and proceedings.
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (ACM)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
  • מלאי ספרים
  • תיאור
  • פריטים דומים
  • תצוגת צוות

אינטרנט

Full text available on Research4Life (ACM)

פריטים דומים

  • Proceedings of the ACM SIGMETRICS/international conference on Measurement and modeling of computer systems
  • Proceedings of the ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems
  • Proceedings of the 1981 ACM SIGMETRICS conference on Measurement and modeling of computer systems
  • Proceedings of the 1990 ACM SIGMETRICS conference on Measurement and modeling of computer systems
  • Proceedings of the 1983 ACM SIGMETRICS conference on Measurement and modeling of computer systems

אפשרויות חיפוש

  • חיפושים קודמים
  • חיפוש מתקדם

מצא עוד

  • דפדוף בקטלוג
  • Explore Channels

צריכים עזרה?

  • טיפים לחיפוש
  • שאלות נפוצות