Anar al contingut
  • Ayesha Abed Library
  • Idioma
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avançada
  • Proceedings of the Internation...
  • Citar
  • Enviar per correu electrònic aquest
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
    • Exportar a MARC
    • Exportar a MARCXML
    • Exportar a BibTeX
  • Enllaç permanent
Proceedings of the International Workshop on Security and Dependability for Resource Constrained Embedded Systems

Proceedings of the International Workshop on Security and Dependability for Resource Constrained Embedded Systems

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Rulan
Format: Electrònic Llibre
Idioma:English
Publicat: Association for Computing Machinery (ACM), 9/14/10
Matèries:
Conference papers and proceedings.
Accés en línia:Full text available on Research4Life (ACM)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal

Internet

Full text available on Research4Life (ACM)

Ítems similars

  • Proceedings of the International Workshop on Security and Dependability for Resource Constrained Embedded Systemss
  • System Engineering for constrained embedded systems
  • Dependable Embedded Systems
    Publicat: (2021)
  • Proceedings of the DroneSE and RAPIDO: System Engineering for constrained embedded systems
  • Media Constrained by Context
    per: Jusić

Opcions de cerca

  • Historial de cerca
  • Cerca avançada

Trobar-ne més

  • Explorar el catàleg
  • Explora canals

Necessites ajuda?

  • Consells de cerca
  • FAQs