Mixed FBB and RBB low leakage technique for high durable CMOS circuit

Mixed FBB and RBB low leakage technique for high durable CMOS circuit

This conference paper was presented in the 2014 International Conference on Informatics, Electronics and Vision, ICIEV 2014; Dhaka; Bangladesh; 23 May 2014 through 24 May 2014 [© 2014 IEEE Computer Society] The conference paper's definite version is available at: http://10.1109/ICIEV.2014.6850...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Barua, Parag, Jafar, Imran Bin, Sengupta, Prianka, Noor, Md Sadaf
অন্যান্য লেখক: Department of Electrical and Electronic Engineering
বিন্যাস: Conference Paper
ভাষা:English
প্রকাশিত: © 2014 IEEE Computer Society 2016
বিষয়গুলি:
BB-Back Bias
CMOS Circuits
FBB-Forward Back Bias
Gate leakage
Leakage current
Low leakage
Low Power VLSI
RBBReverse Back Bias
Tunneling current
অনলাইন ব্যবহার করুন:http://hdl.handle.net/10361/7035

অনুরূপ উপাদানগুলি

অনুরূপ উপাদানগুলি