Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

Détails bibliographiques
Auteur principal: van Schooten
Format: Électronique eBook
Langue:English
Publié: Springer International Publishing, 2013
Édition:1
Sujets:
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