Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

Detalles Bibliográficos
Autor principal: van Schooten
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:English
Publicado: Springer International Publishing, 2013
Edición:1
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Springer
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