Tan. (2013). Electromigration Modeling at Circuit Layout Level (1.). Springer Singapore.
Chicago-viite (17. p.)Tan. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. 1. Springer Singapore, 2013.
MLA-viite (8. p.)Tan. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. 1. Springer Singapore, 2013.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.