Monte Carlo Simulation and Analysis in Modern Optical Tolerancing

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Siew, Ronian
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: SPIE, 2019
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on SPIE Digital Library
Off-campus access