Monte Carlo Simulation and Analysis in Modern Optical Tolerancing

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Siew, Ronian
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:English
יצא לאור: SPIE, 2019
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on SPIE Digital Library
Off-campus access