Monte Carlo Simulation and Analysis in Modern Optical Tolerancing

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Siew, Ronian
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:English
Vydáno: SPIE, 2019
Témata:
On-line přístup:Full text available on SPIE Digital Library
Off-campus access
Popis
Popis jednotky:<strong>Off-Campus Access:</strong> Athens ID and Password Required
<strong>On-Campus Access:</strong> No User ID or Password Required
Fyzický popis:1 online resource
Médium:Mode of access: Internet
ISBN:9781510631656
DOI:10.1117/3.2552933
Přístup:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students