Interferometry for Precision Measurement

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Langenbeck, Peter
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:English
منشور في: SPIE, 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Full text available on SPIE Digital Library
Off-campus access