Langenbeck, P. (2014). Interferometry for Precision Measurement. SPIE. https://doi.org/10.1117/3.928443
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Langenbeck, Peter. Interferometry for Precision Measurement. SPIE, 2014. https://doi.org/10.1117/3.928443.
Цитирование MLA (8-е изд.)Langenbeck, Peter. Interferometry for Precision Measurement. SPIE, 2014. https://doi.org/10.1117/3.928443.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.