Langenbeck, P. (2014). Interferometry for Precision Measurement. SPIE. https://doi.org/10.1117/3.928443
शिकागो शैली (17वां संस्करण) प्रशस्ति पत्रLangenbeck, Peter. Interferometry for Precision Measurement. SPIE, 2014. https://doi.org/10.1117/3.928443.
एमएलए (8वां संस्करण) प्रशस्ति पत्रLangenbeck, Peter. Interferometry for Precision Measurement. SPIE, 2014. https://doi.org/10.1117/3.928443.
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