Langenbeck, P. (2014). Interferometry for Precision Measurement. SPIE. https://doi.org/10.1117/3.928443
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Langenbeck, Peter. Interferometry for Precision Measurement. SPIE, 2014. https://doi.org/10.1117/3.928443.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Langenbeck, Peter. Interferometry for Precision Measurement. SPIE, 2014. https://doi.org/10.1117/3.928443.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.