Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices IX

Bibliografiska uppgifter
Övriga upphovsmän: Kullberg, Richard
Materialtyp: Elektronisk Bok
Språk:English
Publicerad: SPIE Digital Library, 2/4/10
Ämnen:
Länkar:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Liknande verk