Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII
| অন্যান্য লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক গ্রন্থ |
| ভাষা: | English |
| প্রকাশিত: |
SPIE Digital Library,
2/6/09
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Classic Catalogue: | View this record in Classic Catalogue |