Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXII

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Allgair, John
Format: Electrònic Llibre
Idioma:English
Publicat: SPIE Digital Library, 4/28/08
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
Descripció
Descripció de l’ítem:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Descripció física:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9780819471079
Accés:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students