Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Assoufid, Lahsen
Format: Elektroniczne Książka
Język:English
Wydane: SPIE Digital Library, 1/1/07
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
Opis
Deskrypcja:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Opis fizyczny:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9780819468529
Ograniczenie dostępu:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students