Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V
| Muut tekijät: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Elektroninen Kirja |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
SPIE Digital Library,
6/18/07
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Classic Catalogue: | View this record in Classic Catalogue |