Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Podrobná bibliografie
Další autoři: Geer, Robert
Médium: Elektronický zdroj Kniha
Jazyk:English
Vydáno: SPIE Digital Library, 5/9/05
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Podobné jednotky