Geer, R. Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Geer, Robert. Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 8)Geer, Robert. Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..