Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Tobin, Kenneth
التنسيق: الكتروني كتاب
اللغة:English
منشور في: SPIE Digital Library, 7/15/03
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
الوصف
وصف المادة:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
وصف مادي:1 online resource
التنسيق:Mode of access: Internet
ردمك:9780819448460
وصول:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students