Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Gu, Zu-Han
Materyal Türü: Elektronik Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: SPIE Digital Library, 10/22/02
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fiziksel Özellikler:1 online resource
Materyal Türü:Mode of access: Internet
ISBN:9780819445476
Erişim:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students