Gu, Z. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology. SPIE Digital Library.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Gu, Zu-Han. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology. SPIE Digital Library.
Цитирование MLA (8-е изд.)Gu, Zu-Han. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology. SPIE Digital Library.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.