Microsystems Engineering: Metrology and Inspection

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Gorecki, Christophe
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 10/23/01
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Նմանատիպ նյութեր