Amberiadis, K. In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Amberiadis, Kostas. In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Amberiadis, Kostas. In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.