Stover, J. Flatness, Roughness, and Discrete Defects Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Stover, John. Flatness, Roughness, and Discrete Defects Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 8)Stover, John. Flatness, Roughness, and Discrete Defects Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays II. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..