Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Postek, Michael
Format: Elektronisch Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 6/9/11
Schlagworte:
Online Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
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