Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Lehmann, Peter
Formaat: Elektronisch Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: SPIE Digital Library, 4/9/13
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Gelijkaardige items