Postek, M. Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VI. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Postek, Michael. Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VI. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Postek, Michael. Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VI. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.