Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII
| מחברים אחרים: | |
|---|---|
| פורמט: | אלקטרוני ספר |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
SPIE Digital Library,
3/19/14
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Classic Catalogue: | View this record in Classic Catalogue |