Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Shahriar, Selim M.
Fformat: Electronig Llyfr
Iaith:English
Cyhoeddwyd: SPIE Digital Library, 1/1/19
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Eitemau Tebyg