Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Shahriar, Selim M.
Aineistotyyppi: Elektroninen Kirja
Kieli:English
Julkaistu: SPIE Digital Library, 1/1/19
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Samankaltaisia teoksia