Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Shahriar, Selim
Formato: Electrónico Libro
Lenguaje:English
Publicado: SPIE Digital Library, 4/15/19
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
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