Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology
| Інші автори: | |
|---|---|
| Формат: | Електронний ресурс Книга |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
SPIE Digital Library,
4/15/19
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Classic Catalogue: | View this record in Classic Catalogue |