Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Shahriar, Selim
Format: Elektronisch Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 4/15/19
Schlagworte:
Online Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
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Beschreibung
Beschreibung:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Beschreibung:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9781510625105
9781510625112
Zugangseinschränkungen:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students