Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications VI

Dettagli Bibliografici
Altri autori: Han, Sen
Natura: Elettronico Libro
Lingua:English
Pubblicazione: SPIE Digital Library, 1/3/20
Soggetti:
Accesso online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
Descrizione
Descrizione del documento:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Descrizione fisica:1 online resource
Natura:Mode of access: Internet
ISBN:9781510630956
9781510630963
Accesso:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students