Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology II

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: de Groot, Peter J.
Format: Elektroniczne Książka
Język:English
Wydane: SPIE Digital Library, 1/1/12
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Podobne zapisy