Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications III

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Han, Sen
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 12/10/14
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Նմանատիպ նյութեր