Novak, E. Applied Optical Metrology V. SPIE Digital Library.
Chicago-viite (17. p.)Novak, Erik. Applied Optical Metrology V. SPIE Digital Library.
MLA-viite (8. p.)Novak, Erik. Applied Optical Metrology V. SPIE Digital Library.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.