Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Han, Sen
Format: Elektronisch Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 1/1/17
Schlagworte:
Online Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
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Beschreibung
Beschreibung:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Beschreibung:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9781510657045
9781510657052
Zugangseinschränkungen:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students