Automated Visual Inspection and Machine Vision

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
অন্যান্য লেখক: Beyerer, Jürgen
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: SPIE Digital Library, 5/19/15
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

অনুরূপ উপাদানগুলি