Ga door naar de inhoud
  • Ayesha Abed Library
  • Taal
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Geavanceerd
  • Proceedings of the 2nd Interna...
  • Citeren
  • Versturen
  • Afdrukken
  • Exporteer Record
    • Exporteer naar RefWorks
    • Exporteer naar EndNoteWeb
    • Exporteer naar EndNote
    • Exporteer naar MARC
    • Exporteer naar MARCXML
    • Exporteer naar BibTeX
  • Permalink
Proceedings of the 2nd International Workshop on Defects in Large Software Systems: Held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2009)

Proceedings of the 2nd International Workshop on Defects in Large Software Systems: Held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2009)

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Liblit
Formaat: Elektronisch Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Association for Computing Machinery (ACM), 6/19/09
Onderwerpen:
Conference papers and proceedings.
Online toegang:Full text available on Research4Life (ACM)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
  • Exemplaren
  • Omschrijving
  • Gelijkaardige items
  • Personeel

Internet

Full text available on Research4Life (ACM)

Gelijkaardige items

  • Proceedings of the 2008 international workshop on dynamic analysis: held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2008)
  • Proceedings of the ISSTA 2006 workshop on Role of software architecture for testing and analysis
  • Proceedings of the 2008 workshop on Defects in large software systems
  • Proceedings of the 32nd ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis
  • Proceedings of the 2nd ACM SIGSOFT International Workshop on Software Qualities and Their Dependencies

Zoekopties

  • Zoekgeschiedenis
  • Uitgebreid zoeken

Vind meer

  • Blader door de catalogus
  • Ontdek de kanalen

Hulp nodig?

  • Zoektips
  • FAQs