Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Gaither
Format: Électronique Livre
Langue:English
Publié: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/95
Sujets:
Accès en ligne:Full text available on Research4Life (ACM)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Documents similaires