2016 IEEE/ACM 1st International Workshop on Metamorphic Testing (MET). IEEE.
Citace podle Chicago (17th ed.)2016 IEEE/ACM 1st International Workshop on Metamorphic Testing (MET). IEEE.
Citace podle MLA (8th ed.)2016 IEEE/ACM 1st International Workshop on Metamorphic Testing (MET). IEEE.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..