2015 International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO). IEEE.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)2015 International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO). IEEE.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 8)2015 International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO). IEEE.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..