APA (7. basım) Alıntı

2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium. IEEE.

Chicago Style (17. basım) Atıf

2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium. IEEE.

MLA (8th ed.) Atıf

2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium. IEEE.

Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..