2012 IEEE Workshop on Biometric Measurements and Systems for Security and Medical Applications (BIOMS) Proceedings

מידע ביבליוגרפי
פורמט: אלקטרוני ספר
שפה:English
יצא לאור: IEEE
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

פריטים דומים