APA-referens (7:e uppl.)

2012 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE.

Chicago-referens (17:e uppl.)

2012 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE.

MLA-referens (8:e uppl.)

2012 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE.

Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.