APA (7. basım) Alıntı

2011 International Conference on Biometrics and Kansei Engineering. IEEE.

Chicago Style (17. basım) Atıf

2011 International Conference on Biometrics and Kansei Engineering. IEEE.

MLA (8th ed.) Atıf

2011 International Conference on Biometrics and Kansei Engineering. IEEE.

Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..