Перейти до змісту
  • Ayesha Abed Library
  • Мова
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Розширений
  • 2011 IEEE International Confer...
  • Цитувати
  • Відправити е-поштою
  • Друк
  • Експортувати запис
    • Екпортувати в RefWorks
    • Екпортувати в EndNoteWeb
    • Екпортувати в EndNote
    • Екпортувати в MARC
    • Екпортувати в MARCXML
    • Екпортувати в BibTeX
  • Постійне посилання
2011 IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA) Proceedings

2011 IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA) Proceedings

Бібліографічні деталі
Формат: Електронний ресурс Книга
Мова:English
Опубліковано: IEEE
Предмети:
Computing and Processing; Components, Circuits, Devices and Systems; Communication, Networking and Broadcast Technologies; Power, Energy and Industry Applications
Conference papers and proceedings.
Онлайн доступ:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
  • Примірники
  • Опис
  • Схожі ресурси
  • Службовий вигляд

Інтернет

Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access

Схожі ресурси

  • Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA), IEEE International Conference on
  • 2012 IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA) Proceedings
  • 2010 IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications
  • 2011 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference
  • 2010 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference Proceedings

Опції пошуку

  • Історія пошуку
  • Розширений пошук

Знайти більше

  • Перегляд каталогу
  • Дослідити зв'язки

Потрібна допомога?

  • Поради для пошуку
  • Часті запитання