Přeskočit na obsah
  • Ayesha Abed Library
  • Jazyk
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Pokročilé
  • 2020 IEEE International Confer...
  • Vytvořit citaci
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
    • Exportovat do MARC
    • Exportovat do MARCXML
    • Exportovat do BibTeX
  • Trvalý odkaz
2020 IEEE International Conference on Advent Trends in Multidisciplinary Research and Innovation (ICATMRI)

2020 IEEE International Conference on Advent Trends in Multidisciplinary Research and Innovation (ICATMRI)

Podrobná bibliografie
Médium: Elektronický zdroj Kniha
Jazyk:English
Vydáno: IEEE
Témata:
Communication, Networking and Broadcast Technologies; Components, Circuits, Devices and Systems; Computing and Processing; Engineered Materials, Dielectrics and Plasmas; Engineering Profession; Fields, Waves and Electromagnetics; Power, Energy and Industry Applications; Robotics and Control Systems; Signal Processing and Analysis
Conference papers and proceedings.
On-line přístup:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC

Internet

Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access

Podobné jednotky

  • Advent Trends in Multidisciplinary Research and Innovation (ICATMRI), IEEE International Conference on
  • 2020 4th International Symposium on Multidisciplinary Studies and Innovative Technologies (ISMSIT)
  • 2020 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE)
  • Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE), 2020 IEEE
  • Multidisciplinary Studies and Innovative Technologies (ISMSIT), International Symposium on

Možnosti vyhledávání

  • Historie vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání

Objevte více

  • Procházení katalogu
  • Grafické procházení katalogu

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
  • Často kladené otázky